10月30日至11月3日覃思科技會(huì )同荷蘭ASI公司赴重慶參加了LEEM/PEEM-11國際研討會(huì )并展出先進(jìn)探測器
發(fā)布時(shí)間：2018-11-08
2018年10月30日至11月3日覃思科技會(huì )同荷蘭ASI公司赴重慶參加了LEEM/PEEM-11國際研討會(huì )并展出了ASI出品的光子計數型高靈敏探測器相機，獲得了來(lái)自美國、英國、德國、瑞典、日本和香港等國家和地區的專(zhuān)家學(xué)者的好評和青睞;由于出色的性能指標及其在低能電子顯微鏡(LEEM)、光電子顯微鏡(PEEM)領(lǐng)域的廣泛的應用前景，不斷有興趣客戶(hù)前來(lái)展臺咨詢(xún)洽購。
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